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高美探測(cè)器

高美探測(cè)器

高美公司同時(shí)提供各種規(guī)格的數(shù)字平板探測(cè)器,可滿足數(shù)字成像系統(tǒng)的各類應(yīng)用。產(chǎn)品尺寸從13×8cm到43×43cm可選。先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù)能夠有效的防止幾何失真,以及減少輻射和磁場(chǎng)的影響。

能讓用戶隨時(shí)監(jiān)控?cái)?shù)字成像的畫(huà)面質(zhì)量的同時(shí),始終保持設(shè)備的高通量,該功能在CT檢測(cè)中同樣適用。高美探測(cè)器系列產(chǎn)品給客戶提供了流暢,不失真,高分辨率的畫(huà)質(zhì),為電路,機(jī)器零件等機(jī)件的內(nèi)部分析提供了有力的依據(jù)。

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